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EMC整改實錄：屏蔽罩與吸波材料在輻射超標(biāo)中的實戰(zhàn)應(yīng)用

在電子產(chǎn)品的EMC（電磁兼容）測試中，輻射發(fā)射（RE）超標(biāo)往往是項目進度的“攔路虎”。當(dāng)PCB布局已定且濾波措施失效時，屏蔽罩（Shielding Can）與吸波材料便成為工程師手中的“后防線”。然而，簡單的“蓋蓋子”往往適得其反，甚至引發(fā)諧振效應(yīng)。本文結(jié)合實戰(zhàn)案例，解析這兩種手段的正確打開方式。

測試測量
2026-03-23

EMC 電磁兼容
穩(wěn)定性差的溫度傳感器有哪些表現(xiàn)？溫度傳感器常見故障有哪些

在下述的內(nèi)容中，小編將會對度傳感器的相關(guān)消息予以報道，如果度傳感器是您想要了解的焦點之一，不妨和小編共同閱讀這篇文章哦。

測試測量
2026-03-22

傳感器溫度傳感器
在高速電路設(shè)計中，寄生電感的成因與影響

寄生電感會引發(fā)電壓振鈴、信號延遲和電磁干擾(EMI)等問題，尤其在開關(guān)電源、射頻電路和高速數(shù)字系統(tǒng)中，其負(fù)面影響更為突出。

測試測量
2026-03-22

寄生電感
文件系統(tǒng)選型：FATFS、LittleFS與SPIFFS在掉電保護場景下的對比測試

在嵌入式系統(tǒng)的“至暗時刻”——意外掉電，文件系統(tǒng)的表現(xiàn)往往決定了設(shè)備的生死。對于工業(yè)控制、汽車電子等對可靠性要求極高的場景，數(shù)據(jù)完整性是不可逾越的紅線。本文基于ESP32-S3平臺，對FATFS、LittleFS和SPIFFS進行了殘酷的“斷電拉練”，揭示它們在極端條件下的真實面目。

測試測量
2026-03-22

文件系統(tǒng) ATFS
物理驗證自動化：Perl腳本自動修復(fù)Calibre標(biāo)記錯誤的實戰(zhàn)進階

在7/nm及以下先進工藝中，物理驗證（DRC/LVS）的規(guī)則數(shù)量呈指數(shù)級增長，單次運行可能產(chǎn)生數(shù)萬條違/規(guī)信息。傳統(tǒng)的“人工讀報告-手動改版圖”模式不僅效率低下，還容易因疲勞操作引入新錯誤。利用Perl腳本結(jié)合Calibre的SVRF命令，實現(xiàn)“報告解析-自動修改-迭代修復(fù)”的閉環(huán)，是后端工程師提升TAT（周轉(zhuǎn)時間）的核心技能。

測試測量
2026-03-22

Calibre 物理驗證 Perl腳本
熱設(shè)計仿真：Icepak在PCB高功率密度區(qū)域的散熱模擬實戰(zhàn)

在芯片性能狂飆突進的今天，PCB上的功率密度早已突破了傳統(tǒng)散熱的安全邊界。當(dāng)FPGA、大功率DC-DC模塊等熱源在狹小空間內(nèi)集中爆發(fā)時，單純依靠經(jīng)驗設(shè)計或后期打補丁，往往會讓研發(fā)陷入“改了又改”的死循環(huán)。此時，ANSYS Icepak作為專業(yè)的電子散熱仿真利器，便成為工程師預(yù)判熱風(fēng)險、優(yōu)化散熱方案的“透視眼”。

測試測量
2026-03-22

PCB 熱設(shè)計仿真 Icepak
生產(chǎn)測試編程：SVF/STAPL文件在自動化測試設(shè)備（ATE）中的實戰(zhàn)應(yīng)用

在半導(dǎo)體制造的浩瀚洪流中，自動化測試設(shè)備（ATE）如同不知疲倦的“質(zhì)檢軍團”，而SVF（Serial Vector Format）與STAPL（Standard Test and Programming Language）文件則是這支軍團的“作戰(zhàn)劇本”。這兩種基于IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)的文本格式，將復(fù)雜的JTAG邊界掃描操作轉(zhuǎn)化為機器可執(zhí)行的指令流，徹底改變了芯片生產(chǎn)測試的效率格局。

測試測量
2026-03-22

ATE 生產(chǎn)測試編程 SVF/STAPL
電源模塊選型：LDO與DC-DC的紋波抑制與瞬態(tài)響應(yīng)博弈

在現(xiàn)代電子系統(tǒng)的電源樹設(shè)計中，LDO（低壓差線性穩(wěn)壓器）與DC-DC（開關(guān)穩(wěn)壓器）猶如一對性格迥異的“雙子星”。工程師在選型時，往往糾結(jié)于效率與噪聲的零和博弈，而紋波抑制比（PSRR）與負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)正是這場博弈的核心籌碼。

測試測量
2026-03-22

電源 DC-DC LDO
振動與可靠性測試：MIL-STD-810標(biāo)準(zhǔn)下的夾具設(shè)計藝術(shù)

在環(huán)境可靠性試驗的宏大敘事中，振動臺是心臟，控制系統(tǒng)是大腦，而夾具則是連接兩者的“神經(jīng)樞紐”。許多工程師誤以為只要選對了振動臺，測試便成功了一半，殊不知一個設(shè)計拙劣的夾具足以讓昂貴的測試淪為一場“數(shù)字游戲”。在MIL-STD-810標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)苛審視下，夾具不再是簡單的連接板，而是一門融合了動力學(xué)、材料學(xué)與工程經(jīng)驗的精密藝術(shù)。

測試測量
2026-03-22

可靠性測試 MIL-STD-810
邏輯分析儀時序分析：Setup/Hold Time違/規(guī)的捕捉與分析方法

在高速數(shù)字電路調(diào)試中，Setup（建立時間）和Hold（保持時間）違/規(guī)是導(dǎo)致系統(tǒng)間歇性死機或數(shù)據(jù)錯誤的“隱形殺手”。由于這類違/規(guī)通常發(fā)生在納秒甚至皮秒級，且具有隨機性，普通示波器難以捕捉。邏輯分析儀憑借其多通道并行采集與深度存儲能力，成為定位此類時序缺陷的“顯微鏡”。

測試測量
2026-03-22

時序分析邏輯分析儀
頻譜分析儀使用：開關(guān)電源EMI噪聲的近場探測與定位

在開關(guān)電源設(shè)計中，EMI（電磁干擾）問題如同揮之不去的陰霾。隨著開關(guān)頻率邁向MHz甚至GHz級別，傳統(tǒng)的遠場測量往往只能告訴你“超標(biāo)了”，卻無法揭示噪聲源頭的具體物理位置。此時，利用頻譜分析儀配合近場探頭進行“嗅探”，成為工程師定位隱蔽噪聲源的bi殺技。

測試測量
2026-03-22

開關(guān)電源頻譜分析儀 EMI
示波器高階應(yīng)用：串行總線解碼與眼圖模板測試的設(shè)置技巧

在高速數(shù)字電路調(diào)試中，示波器早已超越了單純測量電壓幅值的初級功能。面對PCIe、USB 3.0或DDR等吉比特速率的串行信號，工程師bi須掌握兩項核心技能：協(xié)議層面的總線解碼與物理層面的眼圖模板測試。這兩者結(jié)合，才能從“看波形”進階到“分析信號完整性”。

測試測量
2026-03-22

示波器串行總線
JTAG邊界掃描：板級測試中如何利用JTAG定位開路/短路故障

在高密度PCB（印刷電路板）設(shè)計日益普及的今天，測試點（Test Point）的稀缺與BGA封裝的普及，讓傳統(tǒng)的“萬用表+飛針”測試方式面臨巨大挑戰(zhàn)。JTAG（Joint Test Action Group，IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)）作為一種國際通用的調(diào)試接口，不僅是固件下載的通道，更是板級信號完整性檢測的“虛擬探針”。通過邊界掃描技術(shù)，工程師無需物理接觸引腳，即可精準(zhǔn)定位開路（Open）與短路（Short）故障。

測試測量
2026-03-22

板級測試 JTAG
故障注入測試：電源跌落與信號干擾下的系統(tǒng)魯棒性驗證

在工業(yè)控制與汽車電子領(lǐng)域，嵌入式系統(tǒng)往往運行在充滿不確定性的電磁環(huán)境中。電壓波動、靜電放電或電磁輻射不僅是理論上的風(fēng)險，更是導(dǎo)致“死機”或“失控”的隱形殺手。傳統(tǒng)的功能測試只能驗證“理想狀態(tài)”下的邏輯正確性，而故障注入測試（Fault Injection Testing）則是主動“破壞”系統(tǒng)，以驗證其在極端條件下的恢復(fù)能力。這是確保產(chǎn)品可靠性的bi需手段，也是通過安全認(rèn)證的關(guān)鍵一環(huán)。

測試測量
2026-03-22

電源故障注入測試
實驗室數(shù)據(jù)自動化：Python+VISA驅(qū)動的智能測試方案

在現(xiàn)代電子實驗室中，示波器與邏輯分析儀是工程師的“眼睛”，但手動操作的繁瑣往往成為效率瓶頸。面對成百上千次的重復(fù)測量，人工設(shè)置觸發(fā)、保存截圖不僅枯燥，還容易引入人為誤差。此時，利用Python結(jié)合VISA庫構(gòu)建自動化測試系統(tǒng)，成為提升科研效率的bi由之路。

測試測量
2026-03-22

示波器 Python VISA

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