测试测量
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CISPR 32 Class B的DC-DC EMI设计达标方法论
在电磁兼容实验室里，最让硬件工程师崩溃的瞬间，往往不是方案本身出了问题，而是DC-DC电源在CISPR 32 Class B的辐射测试中，某几个频点毫无征兆地飙高，干扰源头却像幽灵一样难以定位。这种被动局面背后，是工程师对DC-DC开关噪声的频谱特性缺少系统性的认知：开关管的每一次硬开关动作，本质上都是在向电路板注入一个宽带脉冲串，它的频谱会从基波频率一直延伸到数百MHz，其中的高次谐波恰好落在CISPR 32 Class B的30MHz至1GHz的测试频段内，形成看似随机实则必然的辐射超标。想从根上解决这个问题，需要回到EMI的三大要素——干扰源、耦合路径、敏感体——逐层拆解，用参数化的设计手段替代反复试错的经验主义。
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开关电源噪声为何测乱？探头怎么接？
同一块板，换个探头或挪一下线缆，噪声读数就差很多，这通常说明测量系统已经参与了电路。开关电源噪声边沿快、阻抗低，测试方法不对时，看到的先是夹具误差。
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高压差分探头为何压低波形？输入电容怎么控？
探头接上后波形变得更平，未必说明原来噪声被证伪，也可能是测量本身改变了电路。高压差分探头虽然标着高阻输入，但在高频和高阻节点上仍会形成可见负载。
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数字万用表四线法测低电阻的操作细节与精度验证
在测量功率电感DCR、PCB铜箔电阻、接触电阻等低阻值（
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JTAG调试实战：链路建立、寄存器读写与断点设置
在嵌入式裸机或RTOS开发中，JTAG（Joint Test Action Group） 调试器（J‑Link / ST‑Link / CMSIS‑DAP）是定位启动代码崩溃、外设配置错误或中断异常的利器。很多开发者只会点“Download & Run”，却不熟悉链路扫描、寄存器读写与断点类型选择。本文以 J‑Link + GDB（arm‑none‑eabi‑gdb） 为例，走完从链路建立到高级断点的完整调试流程。
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示波器FFT功能在EMI预扫描中的操作技巧
在EMI问题初查中，高档数字示波器的FFT（Fast Fourier Transform）可做传导/近场辐射预扫描——快速判断是否存在特定频点（开关频率及其谐波、时钟倍频）超出限值，从而决定是否需要正式上EMI接收机。虽不能替代认证级测试，却是研发阶段极高效的排查手段。本文给出操作技巧与结果判读要点。
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矢量网络分析仪S参数校准的完整操作流程
在射频微波测量中，S参数（S11/S21/S12/S22） 的准确性完全依赖于校准（Calibration）。未校准的VNA读数是端口反射、电缆损耗与连接器的混合结果，毫无工程价值。本文以SOLT（Short-Open-Load-Thru）校准为例，走完从准备到验证的完整闭环，适用Keysight PNA / R&S ZNB / Anritsu Lightning系列。
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LCR表在功率电感DCR/ESR提取中的操作方法
在开关电源（Buck/Boost）设计中，功率电感的DCR（直流电阻）与ESR（等效串联电阻） 直接影响纹波、效率与补偿网络设计。虽然Datasheet会给出典型值，但实际批次差异、温升影响需实测。LCR数字电桥（如Keysight E4980A / TH2822 / Hioki IM3536）是提取DCR/ESR最直接的工具。本文说明正确操作步骤与数据解读要点。
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逻辑分析仪协议解码的触发配置与操作要点
在嵌入式硬件调试中，逻辑分析仪（LA）不仅能看波形，更能通过协议触发（Protocol Trigger）在指定I²C地址、SPI命令字或UART字符串处暂停捕获，帮您抓住瞬态错误。Saleae / Kingst / Tek TLA系列操作界面虽有差异，但触发逻辑一致。本文以I²C/SPI/UART为例说明配置要点。
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频谱分析仪RBW/VBW设置对底噪的影响与操作建议
在射频测试中，RBW（Resolution Bandwidth，分辨率带宽） 与 VBW（Video Bandwidth，视频带宽） 的设置直接影响显示的底噪（Noise Floor）、扫速与信号分辨能力。误设RBW/VBW是导致“测不到弱信号”或“误判杂散超标”的常见原因。本文以Keysight N9320B / R&S FPC为例，说明参数物理含义、对底噪的影响及最佳操作习惯。
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电源纹波测量的正确接地方式与常见错误对比
在电源设计（DC‑DC、LDO、PMIC）中，电源纹波（Ripple + Noise） 是评估稳定性的核心指标。很多工程师测到的“100mV纹波”其实是接地环路噪声，而非真实输出波动。本文对比正确与错误的测量方法，并给出示波器设置与操作规范。
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高速信号眼图测试：判读标准与操作规范详解
在SerDes、HDMI、USB3.x、PCIe等高速链路验证中，眼图（Eye Diagram）是评估信号完整性的终极直观工具。它能一次性反映抖动、噪声、ISI（码间干扰）与幅度衰减。会"看"眼图比会跑测试更重要。本文说明示波器上产生眼图的标准操作步骤，并解读各参数的合格判据。
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高频电阻噪声为何抬升？低噪怎么测？
低噪声放大器前端换了一颗电阻，底噪却明显上升，这类问题不能只看阻值和封装。高频电阻在宽带电路里同时带来热噪声、电流噪声和测试夹具噪声，预算必须分开。
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高压差分探头CMRR为何掉？dvdt怎么测？
手册里的CMRR通常很漂亮，真正量半桥边沿时却突然冒出尖峰，这不是参数失效，而是频率条件变了。高压差分探头面对高dv/dt共模阶跃时，共模抑制会从静态指标变成动态匹配问题。
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高压差分探头噪声为何高？小信号怎么量？
高压背景上叠着几毫伏小信号时，能安全接上探头只是第一步，真正难的是分辨率够不够。高压差分探头的噪声底和量化条件，常常决定纹波读数是否有意义。
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