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Keithley技术文献：半导体C-V测量基础

通用测试电容-电压（C-V）测试广泛用于测量半导体参数，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外，利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析，包括双极结型

功率器件
2018-10-16

c-v MOSFET 半导体电源技术解析 moscap 测量基础