DFT

可测试性设计（DFT）实现：扫描链插入与边界扫描测试向量生成

在集成电路设计复杂度持续提升的背景下，传统功能测试方法面临覆盖率不足、故障定位困难等挑战。可测试性设计（DFT）通过在芯片中嵌入测试结构，显著提升了故障检测效率。本文聚焦扫描链插入与边界扫描测试向量生成两大核心技术，探讨其实现方法与工程应用。

DFT概述

离散傅里叶变换(DFT)，是傅里叶变换在时域和频域上都呈现离散的形式，将时域信号的采样变换为在离散时间傅里叶变换(DTFT)频域的采样。在形式上，变换两端(时域和频域上)的序列是有限长的，而实际上这两组序列都应当被认为是离散周期信号的主值序列。即使对有限长的离散信号作DFT，也应当将其看作经过周期延拓成为周期信号再作变换。在实际应用中通常采用快速傅里叶变换以高效计算DFT。

LTE上行DFT/IDFT的一种设计实现

FFT、PFT和多相位DFT滤波器组瞬态响应的比较

引言 滤波器组频率响应的研究是一个非常复杂的课题。这方面的大多数文章只研究稳定状态下的响应，事实上，雷达和其它突发方式的信号具有瞬时的特性。因此，了解滤波器组

DFT、DTFT和DFS你搞清楚了吗？

大家好，又到了每日学习的时间了，今天咱们来聊一聊数字信号处理中DFT、DTFT和DFS的关系，咱们通过几幅图来对比，探讨一下哦。

提高DFT测试覆盖率的方法

　伴随着现代大规模集成电路制造工艺的快速发展，设计工程师必需直面芯片制造过程中可能产生的物理缺陷。现今流行的可测试性设计(DFT：Design For Testability)应运而生，并为保证芯片的良品率担任着越

借助硬件加速仿真将 DFT 用于芯片设计

可测试性设计 (DFT) 在市场上所有的电子设计自动化 (EDA) 工具中是最不被重视的，纵然在设计阶段提高芯片的可测试性将会大幅缩减高昂的测试成本，也是如此。最近的分析数据表明，在制造完成后测试芯片是否存在制造缺陷的成本已增至占制造成本的 40%，这已达到警戒水平。