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生产测试编程：SVF/STAPL文件在自动化测试设备（ATE）中的实战应用
在半导体制造的浩瀚洪流中，自动化测试设备（ATE）如同不知疲倦的“质检军团”，而SVF（Serial Vector Format）与STAPL（Standard Test and Programming Language）文件则是这支军团的“作战剧本”。这两种基于IEEE 1149.1标准的文本格式，将复杂的JTAG边界扫描操作转化为机器可执行的指令流，彻底改变了芯片生产测试的效率格局。
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半导体设备巨头撤出中国，官方回应！
近日，美国著名半导体测试设备供应商泰瑞达（Teradyne）表示，因美国出口限制导致供应链中断，现已从中国撤出了制造业务，价值约 10 亿美金。
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泰瑞达：提供“柔性”测试能力，应对高端芯片制造的测试挑战
2023年，AIGC给我们的工作生活带来了前所未有的生产力提升，也引爆了一波AI芯片应用。但纵观全球半导体产业，各行业复苏不及预期，市场需求持续低迷，进入L型底部。
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摩尔精英自主ATE测试中心试运营
近日，一站式芯片设计和供应链平台公司摩尔精英宣布，位于摩尔精英无锡SiP先进封测中心大楼内的ATE测试中心正式开始试运营，为首批客户提供产品工程与测试服务。该测试中心的千级与万级无尘室内，配备有自动化测试设备(Automatic Test Equipment，下称ATE)、晶圆探针台和分选机，支持高低温测试(-55~150℃)，全面覆盖芯片设计公司的各类测试需求，包括工程验证、晶圆测试、成品测试和三温测试。摩尔精英目前拥有数百台自主ATE设备，能够快速响应客户产能需求，除了该测试中心的自有测试产能外，还同时与十多家封装测试厂合作。自营加三方的产能体系，给众多芯片企业提供更优产能调配灵活度的测试量产服务。
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芯片融合大时代下，半导体ATE厂商何去何从
全球半导体设备支出进入上升周期。5G、物联网、大数据、人工智能以及汽车电子等新技术和新产品的应用，将带来庞大的半导体市场需求，行业将进入新一轮的上升周期，同时也加大了对半导体测试设备的需求。
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合肥悦芯半导体：为跻身全球优秀ATE供应商行列竭力前行
悦芯科技成立于2017年，专注研发、生产、销售大规模集成电路生产测试设备(ATE)，拥有包括系统级芯片测试设备T800系列和存储器芯片测试设备TM8000系列两大通用测试系统平台。
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泰瑞达借助中国领先ATE生产供应商完成第10000台测试系统发货
美国马萨诸塞州北芮丁市, May 12, 2020 (GLOBE NEWSWIRE) -- 泰瑞达今日宣布其在中国制造的第10000台测试系统已完成发货。自2007年以来，泰瑞达实施本地采购政策，选定优质的中国供应商合作伙伴，为生产世界级的测试机台打下坚实基础。
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使用ATE高效测量射频到基带噪声指数
噪声指数(Noise Figure)主要测量的是组件的信噪比(Signal-to-noise Ratio, SNR)性能，信噪比是误码率(BER)和载波/噪声比(C/N)等大部分数字通信参数的基础。以往只会针对射频(RF)到射频的组件，也就是低噪声放大器(LN
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有关ATE促进WiMAX射频测试与特征描述
引言 ATE促进WiMAX射频测试与特征描述事实证明，WiMAX收发器件有益于消费电子市场的发展，它们在此找到了多种用途，其中包括把WiFi热点连接到互联网。为确保器件按预想的那样工作，并且使它们迅速
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什么是ATE自动化测试设备?
ATE是“自动化测试设备”的英文缩写，是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。 ATE在60年代早期始于快捷半导体（Fairchild）
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基于ATE高效测量射频到基带噪声指数
噪声指数(Noise Figure)主要测量的是组件的信噪比(Signal-to-noise Ratio, SNR)性能，信噪比是误码率(BER)和载波/噪声比(C/N)等大部分数字通信参数的基础。以往只会针对射频(RF)到射频的组件，也就是低
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NI高速数字ATE和激励响应特性
1. 数字ATE特性 测试工程师能够从具备多种应用特性的不同数字I/O仪器中选择合适的设备进行通信与测试。数字测试设备的核心特性是能够生成硬件定时以及/或实现预定义数字测试模式的采集，这些模式通常存
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ATE促进WiMAX射频测试与特征描述
事实证明，WiMAX收发器件有益于消费电子市场的发展，它们在此找到了多种用途，其中包括把WiFi热点连接到互联网。为确保器件按预想的那样工作，并且使它们迅速上市，器件制造商们需要先进的多功能测试设备和同样先进的测试软件。
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基于ATE推动WiMAX射频测试与特征描述
事实证明，WiMAX收发器件有益于消费电子市场的发展，它们在此找到了多种用途，其中包括把WiFi热点连接到互联网。为确保器件按预想的那样工作，并且使它们迅速上市，器件制造商们需要先进的多功能测试设备和同样先进的测试软件。
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基于J750的S698PM芯片BSD测试方法
S698PM芯片是一款抗辐照型的高性能、高可靠、高集成度、低功耗的多核并行处理器SoC芯片，其芯片内部集成了丰富的片上外设，可广泛应用在航空航天、大容量数据处理、工业控制、船舶、测控等应用领域；而J750是业界比较认可测试结果的SOC芯片ATE(Automatic Test Equipment)测试机，市场占有率非常高。下面主要介绍在J750上开发S698PM芯片BSD测试程序及注意事项。
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NI将半导体ATE数字功能引入PXI平台
NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于帮助工程师和科学家应对全球最严峻的工程挑战的平台系统供应商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量编辑器。
