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混响室辐射发射测试：为什么30分钟能替代暗室3小时？
电磁兼容测试实验室里，一位工程师正在为某个新能源汽车电控单元的辐射发射测试发愁。传统电波暗室测试需要三个小时——天线升降、转台旋转、水平垂直极化切换，每一个环节都是时间的堆砌。而隔壁新启用的混响室测试，同样的产品，同样的频率范围，只用了不到三十分钟就完成了全部测试。这不是魔法，而是测试方法论的革新。
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电磁兼容设计的反向思维，利用辐射发射测试数据优化PCB叠层结构
在传统电磁兼容(EMC)设计流程中，PCB叠层结构的规划往往基于经验法则或前期仿真，通过调整电源/地平面间距、介质材料参数等手段抑制辐射发射。然而，当产品进入辐射发射测试阶段时，若发现超标频点，常规做法是增加屏蔽罩、优化走线或添加滤波器件，而较少从叠层结构本身进行系统性反思。这种“事后补救”模式不仅可能增加设计成本，还可能因结构改动影响信号完整性。本文提出一种反向思维：将辐射发射测试数据作为优化PCB叠层结构的“反馈信号”，通过频域分析与结构参数关联，实现叠层设计的精准修正。这一方法突破了“先设计后验证”的线性流程，将测试环节从“终点”转变为“优化起点”，为EMC设计提供了新的技术路径。
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如何进行医疗产品辐射发射的测试
辐射发射（RE） 测试主要是测量受试设备对环境的电磁骚扰能量。由于现在的电子设备日益发展，周围的电子设备越来越多，电磁环境也越来越拥挤。RE测试的目的就是为了控制受试设备的电磁辐射，使其不对
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通过辐射发射测试：如何避免采用复杂的EMI抑制技术以实现紧凑、高性价比的隔离设计
出于各种原因，电子系统需要实施隔离。它的作用是保护人员和设备不受高电压的影响，或者仅仅是消除PCB上不需要的接地回路。在各种各样的应用中，包括工厂和工业自动化、医疗设备、通信和消费类产品，它都是一个基本设计元素。
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医疗产品辐射发射该怎么测试？
辐射发射（RE） 测试主要是测量受试设备对环境的电磁骚扰能量。由于现在的电子设备日益发展，周围的电子设备越来越多，电磁环境也越来越拥挤。RE测试的目的就是为了控制受试设备的电磁辐射，使其不
