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硬件温度补偿：热敏电阻校准曲线的拟合与验证
在精密电子系统中，温度波动是影响硬件性能稳定性的关键因素。热敏电阻（NTC/PTC）因其高灵敏度和低成本被广泛用于温度补偿，但其非线性特性要求通过校准曲线拟合实现精确测温。本文以NTC热敏电阻为例，介绍基于Steinhart-Hart方程的校准曲线拟合方法，并通过实验验证其准确性，为硬件温度补偿设计提供参考。
在精密电子系统中，温度波动是影响硬件性能稳定性的关键因素。热敏电阻（NTC/PTC）因其高灵敏度和低成本被广泛用于温度补偿，但其非线性特性要求通过校准曲线拟合实现精确测温。本文以NTC热敏电阻为例，介绍基于Steinhart-Hart方程的校准曲线拟合方法，并通过实验验证其准确性，为硬件温度补偿设计提供参考。
