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碳化硅（SiC）MOSFET的直流EMI特征，体二极管反向恢复与开关振铃的协同抑制
在数据中心直流供电系统向高密度、高频化演进的进程中，碳化硅(SiC)MOSFET凭借其低导通电阻、高频开关特性及高温稳定性，成为替代传统硅基IGBT和MOSFET的核心器件。然而，其高速开关过程中产生的直流电磁干扰(EMI)、体二极管反向恢复电流及开关振铃现象，正成为制约系统可靠性的关键瓶颈。本文从器件物理机制出发，结合工程实践，系统分析SiC MOSFET的直流EMI特征，并提出体二极管反向恢复与开关振铃的协同抑制策略。
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