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直流滤波电容的寿命模型：温度、纹波电流与ESR的联合加速老化试验
电动汽车充电桩、数据中心电源及工业自动化设备等高可靠性场景，直流滤波电容作为能量缓冲与纹波抑制的核心元件，其寿命直接决定系统维护周期与运行成本。然而，实际工况中电容同时承受高温、高频纹波电流及等效串联电阻(ESR)的联合作用，导致传统基于单一因素的寿命模型误差显著。本文通过构建温度-纹波电流-ESR的联合加速老化试验框架，揭示多物理场耦合下的电容失效机理，为工程选型提供量化依据。
巧克力娃娃
电动汽车充电桩、数据中心电源及工业自动化设备等高可靠性场景，直流滤波电容作为能量缓冲与纹波抑制的核心元件，其寿命直接决定系统维护周期与运行成本。然而，实际工况中电容同时承受高温、高频纹波电流及等效串联电阻(ESR)的联合作用，导致传统基于单一因素的寿命模型误差显著。本文通过构建温度-纹波电流-ESR的联合加速老化试验框架，揭示多物理场耦合下的电容失效机理，为工程选型提供量化依据。
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