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电容触屏设计中的基线漂移抑制与校准操作流程
在投射式互电容/自电容触摸屏（Capacitive Touch Panel, CTP）中，基线（Baseline / Raw Offset）是感应电极无触摸时的固有电容值（数字化后为Raw Data）。温度变化、湿度、老化会导致基线缓慢漂移（Baseline Drift），若不及时跟踪校准，会产生误触（Ghost Touch）或死区（无响应）。本文基于MCU触控IP（如Cypress CAPSENSE™、STM32 TSC、Azoteq IQS）给出抑制策略与标准校准流程。
