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JTAG边界扫描：板级测试中如何利用JTAG定位开路/短路故障
在高密度PCB（印刷电路板）设计日益普及的今天，测试点（Test Point）的稀缺与BGA封装的普及，让传统的“万用表+飞针”测试方式面临巨大挑战。JTAG（Joint Test Action Group，IEEE 1149.1标准）作为一种国际通用的调试接口，不仅是固件下载的通道，更是板级信号完整性检测的“虚拟探针”。通过边界扫描技术，工程师无需物理接触引脚，即可精准定位开路（Open）与短路（Short）故障。
在高密度PCB（印刷电路板）设计日益普及的今天，测试点（Test Point）的稀缺与BGA封装的普及，让传统的“万用表+飞针”测试方式面临巨大挑战。JTAG（Joint Test Action Group，IEEE 1149.1标准）作为一种国际通用的调试接口，不仅是固件下载的通道，更是板级信号完整性检测的“虚拟探针”。通过边界扫描技术，工程师无需物理接触引脚，即可精准定位开路（Open）与短路（Short）故障。
