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如何利用数字源表进行纳米材料电特性表征
在纳米科技领域，材料的电特性是评估其应用价值的核心指标，直接决定了纳米器件在电子、能源、传感等领域的性能上限。数字源表(Source Measure Unit，SMU)作为集高精度电流源、电压源与万用表功能于一体的综合测试仪器，凭借其宽量程、高分辨率和灵活的操控性，已成为纳米材料电特性表征的核心工具。本文将系统阐述数字源表的工作原理、表征流程及关键技术要点，为相关研究提供实操指南。
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统-连载六
进行布线和夹具设计时，考虑系统安全性也很重要。为了确定操作人员以及仪器会遇到什么危险，要对各种故障情况进行思考，包括因操作人员失误以及因器件状态变化而带来的故障。大电流测试的潜在危险之一是火灾或或烧伤
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统-连载七
一旦系统建立完毕，就要对其功能进行测试，并优化仪器建立，以获得最佳测量。对于开启状态特性分析在当今进行的大部分开启状态特性分析中，为了实现最小热量，都对器件施加脉冲信号。此外，许多功率半导体器件的最终
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C-V测量技术、技巧与陷阱——基于数字源表的准静态电容测
在准静态电容测量[1]中，我们通过测量电流和电荷来计算电容值。这种“斜率”方法使用简单，但是它的频率范围有限（1～10Hz），因而只能用于一些特殊情况下。 SMU1-力常数SMU2-测量
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统-连载五
在测试系统问题中，被误解最多的就是接地。这里，“接地”定义为到接地端的连接。不过，许多人往往使用“接地”一词表示测试电路中源测量单元（SMU）的基准点。在本应用笔记中，这个基准点被称作
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专为紧密耦合源和测量的低压测试设计的2401低压数字源表
2401低压数字源表是吉时利2400系列数字源表家族的新成员，专为需要紧密耦合源和测量的低压测试应用设计。2401数字源表是市面上价格最实惠的精密SMU仪器并提供了用独立可编程电源和数字万用表实现系统和测试台配置的一
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统-连载四
确保测试期间使用的电缆符合测试系统最大电压额定值。在功率器件关闭状态特性分析期间经常遇到高压、低电流测试，要使用能够实现这类测试所需性能的电缆。在高压测试时，要保证充分绝缘，并使漏电流和系统电容带来的
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统-连载二
确定器件接口过去，大多数功率半导体制造商为了测试不得不对器件进行封装，因为当时对晶片上器件施加数十或数千伏电压的技术尚未广泛使用。商用探测器解决方案的应用使得诸多制造商可以对晶片上器件进行测试，从而降
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2401数字源表与吉时利其它数字源表的共性
触发链路接口所有数字源表都包含吉时利独有的触发链路接口，以实现与吉时利许多其它仪器的高速、无缝通信。例如，使用触发链路接口连接数字源表与7000系列开关系统实现完整的多点测试方案。通过触发链路，7000系列开
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统 -连载八
当同时使用多个仪器时，对待测器件的源和测量时序进行协调非常重要。因此，利用可用的软件方案、以简化和/或避免昂贵的编程，是非常有利的。利用商家提供的免费启动软件验证测试系统配置和功能。2600A与2650A系列源测
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统-连载三
仪器连接待测器件(DUT)与仪器的连接对于获得有意义的结果是至关重要的。在使用吉时利8010型大功率测试夹具时，利用吉时利公司提供的电缆连接仪器直截了当。关于连接图，请参见本文件中“系统实例”部分的图
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统-连载一
简介利用高压、大电流源测量单元(SMU)来设计和构建功率半导体器件直流特性分析测试系统包括以下几个步骤:• 选择满足测试要求的设备• 选择连接待测器件(DUT)与仪器的电缆和夹具• 检查系统安全和仪器保
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利用大功率数字源表构建多源测量单元系统系统实例
利用测试夹具对封装器件进行测试吉时利8010型大功率器件测试夹具与2651A以及2657A型大功率系统数字源表一起完善了功率半导体器件测试解决方案。图1给出源测量单元(SMU)仪器与8010型夹具的连接图。在8010型互连参考指
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基于2400系列数字源表构建电阻网络测试系统
电阻网络生产测试的目的是在生产的各个阶段尽可能快速地检验这些器件的性能，以及它们最终的封装形式。这些测试必须可靠以确保所有装箱的产品都满足制造规范。通常情况下，我们需要对网络中的每个单元进行电阻测量。
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用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试
CMOS集成电路(CMOS IC)和电池供电产品的制造商需要测量静态(或“待机”)电源电流用于验证生产测试质量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测
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用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试
CMOS集成电路(CMOS IC)和电池供电产品的制造商需要测量静态(或“待机”)电源电流用于验证生产测试质量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测
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吉时利仪器推出2450型数字源表®的固件升级服务包
吉时利仪器日前宣布，推出新的固件升级服务包，用于更加完善其非常成功的2450型数字源表® 源测量一体单元(SMU)仪器---全球首款电容式触摸屏的交互式SMU台式仪器。此服务包满足了客户提出的众多要求，包含了对若
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吉时利SMU2450数字源表让测量不再枯燥
如今，年轻的电子工程师比例上升，经验也就相对较少。而这些工程师也更偏爱使用简洁、易上手的软件。由于产品成本的压低，专门的测量工程师变少。相反，产品更新换代的周期变短，速度变快，上市时间的压力变大，对于
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吉时利推出全球首款2450型触摸屏数字源表
集I-V特性测试、曲线追踪仪和半导体分析仪的功能于一体的低成本数字源表21ic讯 吉时利仪器日前宣布推出首款采用电容性触摸屏和图标化操作界面的台式数字源表(SMU)。2450型数
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新型数字源表专为低电压测试而优化
吉时利仪器公司日前推出专为低电压测试而优化的低成本方案—2400系列数字源表。新推出的2401型数字源表与所有吉时利SMU(源测量单元)仪器一样，对光伏(太阳能)电池、高亮度LED(HBLED)、低压材料和半导体器件的电
