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故障注入测试：电源跌落与信号干扰下的系统鲁棒性验证
在工业控制与汽车电子领域，嵌入式系统往往运行在充满不确定性的电磁环境中。电压波动、静电放电或电磁辐射不仅是理论上的风险，更是导致“死机”或“失控”的隐形杀手。传统的功能测试只能验证“理想状态”下的逻辑正确性，而故障注入测试（Fault Injection Testing）则是主动“破坏”系统，以验证其在极端条件下的恢复能力。这是确保产品可靠性的bi需手段，也是通过安全认证的关键一环。
在工业控制与汽车电子领域，嵌入式系统往往运行在充满不确定性的电磁环境中。电压波动、静电放电或电磁辐射不仅是理论上的风险，更是导致“死机”或“失控”的隐形杀手。传统的功能测试只能验证“理想状态”下的逻辑正确性，而故障注入测试（Fault Injection Testing）则是主动“破坏”系统，以验证其在极端条件下的恢复能力。这是确保产品可靠性的bi需手段，也是通过安全认证的关键一环。
