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二极管开关瞬间 EMI 问题的本质与成因解析
在电力电子设备、通信系统及工业控制电路中，二极管作为核心开关元件被广泛应用。然而，其在导通与关断的瞬间往往成为电磁干扰(EMI)的主要辐射源，导致设备性能下降、通信中断甚至触发电磁兼容(EMC)测试失败。深入探究二极管开关瞬间 EMI 的产生机制，对于优化电路设计、抑制干扰具有重要的工程意义。
在电力电子设备、通信系统及工业控制电路中，二极管作为核心开关元件被广泛应用。然而，其在导通与关断的瞬间往往成为电磁干扰(EMI)的主要辐射源，导致设备性能下降、通信中断甚至触发电磁兼容(EMC)测试失败。深入探究二极管开关瞬间 EMI 的产生机制，对于优化电路设计、抑制干扰具有重要的工程意义。
