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探针尖寿命测试标准：EIA-364与IEC 60512的对比解读
在电子设备制造与测试领域，探针尖作为关键连接部件，其寿命直接决定了测试系统的可靠性与稳定性。针对探针尖的寿命测试，国际电工委员会(IEC)制定的IEC 60512系列标准与美国电子工业协会(EIA)发布的EIA-364标准是两大核心规范。本文将从材料选型、测试应用、原理分析及实现方法四个维度，系统对比解读这两套标准在探针尖寿命测试中的异同与适用场景。
在电子设备制造与测试领域，探针尖作为关键连接部件，其寿命直接决定了测试系统的可靠性与稳定性。针对探针尖的寿命测试，国际电工委员会(IEC)制定的IEC 60512系列标准与美国电子工业协会(EIA)发布的EIA-364标准是两大核心规范。本文将从材料选型、测试应用、原理分析及实现方法四个维度，系统对比解读这两套标准在探针尖寿命测试中的异同与适用场景。
