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万用表四线测量法在低阻值测试中的操作规范
在电子设备研发与生产中，低阻值电阻的精确测量是保障电路性能的关键环节。传统两线法因引线电阻和接触电阻的干扰，在测量1Ω以下电阻时误差显著，而四线测量法（开尔文法）通过分离电流路径与电压采样路径，有效消除了这类干扰，成为低阻值测试的首选方案。本文将系统阐述四线测量法的操作规范，结合实际案例与理论分析，为工程师提供可落地的技术指南。
在电子设备研发与生产中，低阻值电阻的精确测量是保障电路性能的关键环节。传统两线法因引线电阻和接触电阻的干扰，在测量1Ω以下电阻时误差显著，而四线测量法（开尔文法）通过分离电流路径与电压采样路径，有效消除了这类干扰，成为低阻值测试的首选方案。本文将系统阐述四线测量法的操作规范，结合实际案例与理论分析，为工程师提供可落地的技术指南。
