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可测试性设计（DFT）实现：扫描链插入与边界扫描测试向量生成
在集成电路设计复杂度持续提升的背景下，传统功能测试方法面临覆盖率不足、故障定位困难等挑战。可测试性设计（DFT）通过在芯片中嵌入测试结构，显著提升了故障检测效率。本文聚焦扫描链插入与边界扫描测试向量生成两大核心技术，探讨其实现方法与工程应用。
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硬件可测试性设计规范：保障质量与效率的关键
在快速发展的科技领域，硬件产品的复杂性和集成度日益提高，这对硬件的可测试性提出了更高要求。硬件可测试性设计（DFT, Design for Testability）作为一种重要的设计方法，旨在通过优化硬件设计，提高测试效率、降低测试成本，并确保产品的质量和可靠性。本文将深入探讨硬件可测试性设计规范，包括其重要性、设计原则、实施策略以及未来发展趋势。
