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故障注入与可靠性：FPGA模拟SEU与TMR设计实战
在航天电子、核能控制等高可靠性领域，单粒子翻转（SEU）已成为影响系统稳定性的头号威胁。某卫星通信项目曾因未考虑SEU效应，导致星上计算机在南大西洋异常区频繁死机。通过FPGA故障注入测试与三模冗余（TMR）设计，系统抗辐射能力提升1000倍，这一实践揭示了硬件可靠性设计的核心方法论。
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航天器单粒子翻转（SEU）防护策略设计方案
在航天器运行环境中，高能粒子辐射是威胁系统可靠性的重要因素之一。单粒子翻转（Single Event Upset，SEU）是指单个高能粒子（如质子、重离子等）入射到半导体器件中，使器件的存储单元或逻辑状态发生非预期的改变，从而导致系统出现错误。为提高航天器系统的可靠性和稳定性，需设计有效的SEU防护策略。
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主控芯片CPU/FPGA存储及单粒子翻转科普
每一次神舟载人飞船和SpaceX卫星的发射升空，都能吸引众多人关注。对于这些神秘的航天飞信器，你知道它们的信息都是怎么处理的吗？航天飞行器信息的处理依靠CPU/FPGA，而指令的执行则凭借存储器。目前市场上大多数售卖主芯片的厂商都是靠存储器起家的。Excelpoint世健公司的工程师Wolfe Yu在此对存储的分类以及它们各自的优劣进行了科普介绍。
