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光电耦合器可靠性测试：加速寿命试验与失效分析方法
光电耦合器作为实现电气隔离的核心器件，其可靠性直接影响工业控制、新能源汽车、医疗设备等领域的系统稳定性。然而，传统测试方法需数年才能完成寿命验证，加速寿命试验（ALT）与失效分析技术的结合，已成为缩短研发周期、提升产品可靠性的关键手段。
光电耦合器作为实现电气隔离的核心器件，其可靠性直接影响工业控制、新能源汽车、医疗设备等领域的系统稳定性。然而，传统测试方法需数年才能完成寿命验证，加速寿命试验（ALT）与失效分析技术的结合，已成为缩短研发周期、提升产品可靠性的关键手段。
