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高反光金属表面缺陷检测挑战：偏振成像与多光谱融合的图像预处理技术对比研究
在工业质检领域，高反光金属表面缺陷检测是公认的难题。金属材料的高反射特性导致传统成像技术难以捕捉表面微小缺陷，而环境光干扰、表面粗糙度不均等因素进一步加剧了检测难度。为突破这一瓶颈，偏振成像与多光谱融合技术作为两种前沿图像预处理方法，逐渐成为学术界与产业界的研究热点。本文将从原理分析、应用场景及实现路径三个维度，系统对比两种技术的核心机制与适用性，为高反光金属表面缺陷检测提供技术选型参考。
在工业质检领域，高反光金属表面缺陷检测是公认的难题。金属材料的高反射特性导致传统成像技术难以捕捉表面微小缺陷，而环境光干扰、表面粗糙度不均等因素进一步加剧了检测难度。为突破这一瓶颈，偏振成像与多光谱融合技术作为两种前沿图像预处理方法，逐渐成为学术界与产业界的研究热点。本文将从原理分析、应用场景及实现路径三个维度，系统对比两种技术的核心机制与适用性，为高反光金属表面缺陷检测提供技术选型参考。
